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評価試験の実施事例

豊富な評価検証、車載規格試験の実績をご紹介します。

環境試験

恒温恒湿槽のイメージ
恒温恒湿槽(全28槽)
急速温度変化試験機のイメージ
急速温度変化試験機

試験名一覧

    • 温度サイクル試験
    • 温湿度サイクル試験
    • 高温高湿試験
    • 熱衝撃試験
    • 結露試験
    • 低温起動試験
    • 高温保存試験
    • 梱包保存試験
    • 急速温度変化試験
    • 加速寿命試験

<試験概要>

製品が使用されるさまざまな環境を想定した試験により、温湿度環境に対する耐久性が確保されていることを評価します。

  • 一般的な規格の試験だけでなく、自動車メーカーなどにより規定される特殊なプロファイルにも、急速温度変化試験機を用いることで対応できるようになりました。
  • 特定の条件下で発生する不具合の再現実験や、製品動作と組み合わせた試験、各種データをロギングしながらの試験にも、ご要望に応じた手法をご提案いたします。
  • 急速温度変化試験機を活用した試験期間短縮にも取り組んでいます。製品への過剰な負荷をかけずに温度勾配を高速化できます。

急速温度変化試験・振動試験のご紹介動画はこちら

環境試験動画

衝撃試験・振動試験

姿勢保持落下試験機のイメージ
姿勢保持落下試験機
複合環境試験機のイメージ
複合環境試験機

試験名一覧

    • 衝撃試験(輸送)
    • 衝撃試験(保管)
    • 姿勢保持落下試験
    • 梱包振動、衝撃試験
    • 複合環境試験
      (温湿度+振動衝撃)
    • 共振点検出試験
    • 共振点加振試験
    • 正弦波振動試験
    • ランダム振動試験

<試験概要>

複合環境試験は、温湿度環境と振動、衝撃による負荷を組み合わせた試験です。車載製品などより厳しい環境での使用が想定される製品の信頼性の確認のために実施します。

  • 製品の共振点を検出し、その周波数による定点加振試験は、とても厳しい試験ですが、車載製品には欠かせません。
  • 規格の試験だけでなく、不具合原因の特定再現実験にも多くの実績があります。実装部品への振動の影響を把握する方法の提案など、より効果的な手法を検討し提案します。
  • 姿勢保持落下試験機は、供試品保持アームで落下の直前まで供試品を保持することで、再現性の高い姿勢保持落下試験を実現します。

実装試験、解析、分析

実装試験、解析、分析のイメージ 実装試験、解析、分析のイメージ 実装試験、解析、分析のイメージ 実装試験、解析、分析のイメージ

試験名一覧

    • 冷熱衝撃、
      温度サイクル試験
    • 恒温恒湿バイアス試験
    • PCB出来映え観察
    • 外観観察(IPC準拠)
    • X線観察
    • X線CT観察
    • 断面加工/観察
    • SEM観察/EDX分析
    • FT-IR観察
    • レッドインク試験

<試験概要>

近年、実装/要素技術を深く理解している人材が不足している中、当社はBGAからベアチップ実装、基板、材料開発に至るまで実装要素技術を熟知したエンジニアによる技術支援が可能です。

  • お客様のご依頼内容に応じたコストや品質を実現するために試験計画から試験方法、試験後サンプルの評価・解析・寿命予測まで、製品仕様や要求品質が確認できる試験方法をご提案いたします。
  • 解析技術として、研磨技術に強みをもっており、サンプル加工→研磨→分析まで一貫したご提供が可能で、表面・断面材質や状態に関わらず様々な分析技術・方法(元素分析・化学結合状態分析・結晶構造解析など)を実施し、迅速かつ正確な分析結果をご提供致します。
  • また、お客様へ結果を報告するだけではなく、様々な製品で培った技術をもとに、結果に対しての考察や対策、改善案を付け加え報告させて頂くことで、製品へのフィードバックが可能となります。

効率化・自動化治具

効率化・自動化治具のイメージ

作製事例

  • 暗電流測定自動化システム
  • 機能測定試験自動化システム
  • 温度サイクル試験工期短縮システム
  • テストプログラム作成

省人化、自動化評価期間の短縮を目的とした治具をご提案、作製いたします。

【事例1】暗電流の測定では、DUTの動作を切り替えながら数十万回に及ぶ連続測定が必要ですが、人手で行うのは非常に困難です。DUT動作切替え、オシロ測定、データ保存、それらすべてを自動で行うシステムを作製し、省人化と工期の短縮、試験データの信頼性向上を図ることができました。

【事例2】DUTを動作させることで大きな熱を発する場合、温度サイクル試験における槽内の冷却に時間がかかります。数千サイクルに及ぶ長期試験では、この降下時間の増加が全体の試験時間に大きく影響します。そこで、DUTの温度を監視しながら冷却ファンを制御する自動化システムを作製しました。DUTに過剰な負荷を与えないように冷却することで槽内温度の降下時間を短縮しました。[当初158日間⇒98日間(約60%)]

  • お客様にとって、このような効率化・自動化治具を適用することは、試験時間の短縮による評価コスト削減と試験期間短縮による開発スピードの高速化を同時に実現する大きなメリットになると考えており、このような検討、提案にもっとも注力しています。

ご希望の試験がない場合は、お問い合わせください。

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